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FT测试分类机
FT(Final Test)测试是IC制造的关键步骤,确保最终产品的品质和可靠性。我们的FT测试设备高效精准,支持双温、三温测试,提升生产效率和产品质量。
SLT测试分类机
SLT(System-Level Test)模拟在实际应用环境中的运行情况。此测试确保IC在各种工作条件下的可靠性和性能,确保其能够在最终产品中无故障地运行。
温度控制解决方案
温度控制解决方案是为了高发热量晶片及更精确的温度控制需求而设计的。这些解决方案可以包括温度控制系统、温度监测装置和温度调节,以确保在各种严苛的温度设定下维持稳定的温度环境。
实验室用开发设备
机台尺寸小巧,适合工程开发和实验用途,提供精确可靠的测试和分类功能。这些设备帮助工程师在研发阶段识别并修正问题,提高实验效率,确保产品品质和稳定性。
Flash 测试分类机
Flash 测试分类机则针对各种类型的Flash存储器进行专业的测试和分类。这种设备能够精确检测Flash存储器的性能和可靠性,确保其在各种应用中的卓越表现。
DRAM 测试分类机
DRAM 测试分类机专门用于动态随机存取记忆体(DRAM)的测试和分类。该设备能够对DRAM进行全面的检测,确保其在高效运行和稳定性方面达到严格标准。
Burn-In Oven
Burn-In Oven是一种用于对电子元件进行长时间运行测试的设备。通过将元件暴露在高温环境下进行老化测试,可以检测元件在实际应用中可能出现的问题,确保其耐久性和稳定性.
COF测试分类机
COF(Chip-on-Film)测试分类机是用于对COF封装电子元件进行测试的设备。这种机器能够对COF封装的电子元件进行功能和性能测试,确保其品质和可靠性。对位精度1.5um,能够精确地检测和分类电子元件,保障测试结果的准确性。
AOI检测分类机
AOI(Automatic Optical Inspection)检测分类机是一种利用光学技术来检测和分类电子元件的设备。这种机器能够快速而准确地检测电子产品表面瑕疵和错误,帮助提高生产效率和品质。
MEMS测试分类机
MEMS测试分类机专为微机电系统(MEMS)元件设计。该设备可测试各种类型的MEMS元件,包括Motion Sensors, Microphones, Pressure Sensors, Barometers等,确保其在各种应用中的可靠性和准确性。
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