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FT測試分類機
FT(Final Test)測試是IC製造的關鍵步驟,確保最終產品的品質和可靠性。我們的FT測試設備高效精準,支持雙溫、三溫測試,提升生產效率和產品質量。
SLT測試分類機
SLT(System-Level Test)模擬在實際應用環境中的運行情況。此測試確保IC在各種工作條件下的可靠性和性能,確保其能夠在最終產品中無故障地運行。
溫度控制解決方案
溫度控制解決方案是為了高發熱量晶片及更精確的溫度控制需求而設計的。這些解決方案可以包括溫度控制系統、溫度監測裝置和溫度調節,以確保在各種嚴苛的溫度設定下維持穩定的溫度環境。
實驗室用開發設備
機台尺寸小巧,適合工程開發和實驗用途,提供精確可靠的測試和分類功能。這些設備幫助工程師在研發階段識別並修正問題,提高實驗效率,確保產品品質和穩定性。
Flash 測試分類機
Flash 測試分類機則針對各種類型的Flash存儲器進行專業的測試和分類。這種設備能夠精確檢測Flash存儲器的性能和可靠性,確保其在各種應用中的卓越表現。
DRAM 測試分類機
DRAM 測試分類機專門用於動態隨機存取記憶體(DRAM)的測試和分類。該設備能夠對DRAM進行全面的檢測,確保其在高效運行和穩定性方面達到嚴格標準。
Burn-In Oven
Burn-In Oven是一種用於對電子元件進行長時間運行測試的設備。通過將元件暴露在高溫環境下進行老化測試,可以檢測元件在實際應用中可能出現的問題,確保其耐久性和穩定性.
COF測試分類機
COF(Chip-on-Film)測試分類機是用於對COF封裝電子元件進行測試的設備。這種機器能夠對COF封裝的電子元件進行功能和性能測試,確保其品質和可靠性。對位精度1.5um,能夠精確地檢測和分類電子元件,保障測試結果的準確性。
AOI檢測分類機
AOI(Automatic Optical Inspection)檢測分類機是一種利用光學技術來檢測和分類電子元件的設備。這種機器能夠快速而準確地檢測電子產品表面瑕疵和錯誤,幫助提高生產效率和品質。
MEMS測試分類機
MEMS測試分類機專為微機電系統(MEMS)元件設計。該設備可測試各種類型的MEMS元件,包括Motion Sensors, Microphones, Pressure Sensors, Barometers等,確保其在各種應用中的可靠性和準確性。
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